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2014-1-7

今天没有昨天那么令人兴奋,不是因为犯困,而是……
华为牛人多,但浮躁的人更多。我已经测出来,掉卡的问题跟那个螺钉有关,需要结构和射频资源分析耦合路径,但人们还是习惯于用过去的成功经验……串磁珠去电容等方式,希望猛的一下就把问题解了,但现在显然没有任何好转,这就陷入了瓶颈。
于我而言,解决了这个问题,会学到未知的东西,会掌握到分析问题的方法和勇气,会建立起来之不易的自信,会赢得同事的肯定。
很明显这是个跨领域问题,射频干扰和emi,结构互联和硬件,调动相关领域专家不是简单的事,因此我走大一统的路线看来是对的。
目前软件方面需要有进展,硬件方面需要抓故障时刻波形以寻找敏感单元,射频结构方面需要分析耦合路径,需要加大配合才有可能解决问题。

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